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铁电薄膜铁电性能——电滞回线的测量方法选择

日期:2019-11-21浏览:2782次

 铁电薄膜铁电性能——电滞回线的测量方法选择

    目前,测电滞回线的方法较多。其中测试方法简单、应用广泛的Sawyer-Tower电路,如图所示,其中虚框部分为铁电薄膜样品的等效电 路,Cxi为线性感应等效电容Rx为铁电薄膜样品的 漏导及损耗等效电阻,Cxs为与发极化反转对应的非线性等效电容。

 

Sawyer-Tower电路

    在理想情况下,若只考虑Cxs的作用(认为CxiRx开路),容易证明Uy与铁电薄膜样品的极化强度P成正比。但一般情况下,铁电薄膜样品同时具漏电导和线性感应电容,如果要获得铁电薄 膜样品的木征电滞回线,必须在测贵过程中对样品的漏电导和线性感应电容进行合适的补偿,但这在实际测中较难处理的。另外,此电路中外接积分电容Co的选取和精度会影响测试的度,当然给铁屯薄膜样品提供的信U的频率对测试结果也有很的影响,这样就较难对测试结果进行标定和校准。

    大家选用如下图所示的测量电路,此电路U、被测样品、电流放器和积分器组成。信U提供给被测样品的电流经电流放器放再经积分器积分后得到Uy进入测系统。即使被测样品端加的电压U为零积分器上仍然维持电压,被测样品端是虚地的此测试电路讨称为虚地模式。此电路取消了外接电Co,可减小寄生元件的影响。此电路的测试精度仅取决于积分器积分电C1的精度,减少了对测试的影响环节,比较易定标和校准,并且能实现较高的测贵度。

电滞回线测量电路

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