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产品型号:HC-TSC2000
厂商性质:生产厂家
所在地:北京市
更新日期:2024-09-27
产品概况:
品牌 | 华测 |
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半导体封装材料热刺激电流测试仪/TSDC
TSDC热刺激电流测试仪
HC-TSC2000华测仪器热刺激电流测试仪,其具有测试功能,设备支撑测试电压10kV,采用冷台的方式进行加温与制冷,测量引用使用低噪声线缆,减少测试导线的影响,同时电极加热采用直流电极加热方式,减少电网谐波对测量仪表的干扰。测试功能上也增加了高阻测试、击穿测试、也方便扩展介电谱等测量功能。它能够在不同测量条件和测量模式下进行连续和高速的测量!
华测仪器热刺激电流测试仪特点:
支撑的硬件:
外置6517B或其它高压直流电源
外置的高压放大器(+/-100V到+/-10 kV)块体陶瓷样品夹具
温度控制器和温度腔
测试功能:
热释电测试
漏电流测试
用户定义激励波形
提升了热刺激电流测试仪量精度
HC-TSC2000热刺激电流测试仪由华测仪器多位工程师多年开发,其具有不错的测试功能,设备可支撑测试电压10kV,采用冷台的方式进行加温与制冷,测量引用使用低噪声线缆,减少测试导线的影响,同时电极加热采用直流电极加热方式,减少电网谐波对测量仪表的干扰。同时测试功能上也增加了高阻测试、击穿测试、也方便扩展介电温谱等测量功能。它能够在不同测量条件和测量模式下进行连续和高速的测量!
当您在选择高低环境下进行TSDC测量,您要重点考虑如下的问题?
在受热过程中建立极化态或解除极化态时所产生的短路电流。基本方法是将试样夹在两电极之间,加热到一定温度使样品中的载流子激发,然后施加一个直流的极化电压,经过一段时间使样品充分极化,以便载流子向电极漂移或偶极子充分取向,随后降温到低温,使各类极化“冻结",然后以等速率升温,同时记录试样经检流计短路的去极化电流随温度的变化关系,即得到TSDC谱“冻结",然后以等速率升温,同时记录试样经检流计短路的去极化电流随温度的变化关系,即得到TSDC谱TSDC/TSC-3000 型热激励去极化电流测量系统应用:
广泛应用于电力、绝缘、生物分子等领域,用于研究材料性能的一些关键因素,诸如分子弛豫、相转变、玻璃化温度等等,通过TSDC技术也可以比较直观的研究材料的弛豫时间、活化能等相关的介电特性。TSDC技术也可以比较直观的研究材料的弛豫时间、活化能等相关的介电特性。
设备测量参数
温度范围: -185~600°C
控温精度:±0.25°C
升温斜率:10°C/min(可设定)
测试频率 : 电压max:10Kv
加热方式:直流电极加热
冷却方式:水冷
输入电压:AC 220V
样品尺寸:φ<25mm,d<4mm
电极材料:黄铜或银
夹具辅助材料:99氧化铝陶瓷
低温制冷:液氮
测试功能:TSDC
数据传输:RS-232
设备尺寸:180mmx210mmx50mm
热激励去极化、热激励极化、等温极化时域、等温电导率时域、等温弛豫谱等多种测量参数:样品电流、电流密度、电荷变化、介电常数变化等(增强型)。
可扩展部件
高阻计(可进行高低温下高阻测量)
数字源表(可进行高低温下四探针测量)
高压电源(可进行高低温下TSDC测量)